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手機(jī)做環(huán)境可靠性測(cè)試容易出現(xiàn)的故障

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  手機(jī)擠壓測(cè)試.jpg

  手機(jī)已經(jīng)成為了人們生活中不可缺少的一部分,同時(shí)它在日常使用當(dāng)中的安全性可靠性是我們最關(guān)注的重點(diǎn)。在手機(jī)進(jìn)入市場(chǎng)前,手機(jī)制造商都會(huì)將產(chǎn)品送到微測(cè)檢測(cè)這樣的檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行各國(guó)認(rèn)證及環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn),下面是我們?cè)谧鍪謾C(jī)可靠性試驗(yàn)中容易出現(xiàn)的故障:

  1、高低溫測(cè)試、濕熱試驗(yàn)中會(huì)出現(xiàn)射頻指標(biāo)不合格而導(dǎo)致手機(jī)工作不正常;

  2、振動(dòng)試驗(yàn)中手機(jī)的頻率和相位誤差超標(biāo)引起手機(jī)在移動(dòng)體上工作不可靠;

  3、跌落試驗(yàn)中手機(jī)天線脫落、屏幕無(wú)顯示、屏幕出現(xiàn)放射狀裂紋、通話為單項(xiàng)通話;

  4、翻蓋(滑蓋)壽命試驗(yàn)中轉(zhuǎn)軸故障、軸肩損壞、殼體裂紋、上蓋完全斷裂、屏幕無(wú)顯示、送受話工作不正常等。

  出現(xiàn)上述現(xiàn)象可能是很多原因造成的,電路結(jié)構(gòu)及參數(shù)配置不合理、電子元器件的選用不當(dāng)可能會(huì)造成高溫、低溫、濕熱、振動(dòng)試驗(yàn)中的性能指標(biāo)不合格;元器件的虛接、屏幕部分的保護(hù)不足、連接器的接口過(guò)松會(huì)導(dǎo)致跌落過(guò)程中手機(jī)出現(xiàn)故障;模具設(shè)計(jì)不合理、受力點(diǎn)處結(jié)構(gòu)單薄、裝配時(shí)轉(zhuǎn)軸的角度和力度不合適、轉(zhuǎn)軸的可靠性不夠、FPC的耐折性不強(qiáng)、手機(jī)材質(zhì)較差都可導(dǎo)致翻蓋壽命試驗(yàn)不合格。




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